展商动态丨精测电子联合长光辰芯发布全新高精度显示器缺陷检测解决方案

来源:世展网 分类:显示行业资讯 2025-03-12 11:34 阅读:1742
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3月10日,武汉精测电子集团股份有限公司(以下简称"精测电子")与长春长光辰芯微电子股份有限公司(以下简称"长光辰芯")联合宣布推出全球首款基于2.71亿像素CMOS图像传感器的全新高精度显示器缺陷检测解决方案,为高端工业检测、显示器质量缺陷检测等细分领域带来全新的技术突破。

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本次发布的全新解决方案采用了长光辰芯2.71亿像素超高分辨率的CMOS图像传感器——GMAX15271BSI,该芯片具备先进的1.5μm背照式像素技术,同时得益于先进的电路设计,可实现0.75e-的超低读出噪声和73.9dB的高动态范围,配合高速sub-LVDS数据接口,可确保设备在高传输速率下数据的完整性与稳定性。

2.71亿像素超高分辨率的CMOS图像传感器GMAX15271BSI

结合精测电子独创的显示屏单像素亮色度精确提取算法技术,传感器的2.71亿像素为显示屏的亮色度检测和补偿提供更高的成像Mapping(分辨率高达3800*3000的 Micro OLED显示器,依然可以高达5*4.6的Mapping),弱化成像时的摩尔纹,可极大降低对高分辨率大尺寸显示器的微小缺陷检测时的误判,赋予了设备精确检测1/3 Dot缺陷的能力;极低的读出噪声和高动态范围结合高分辨率和独创算法,为显示器中低灰阶的微弱缺陷检测与补偿,提供了新的可能。(来源:精测电子

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